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phoenix v|tome|x m - versatile industrial CT Scanner for fully automated industrial Computed Tomography
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phoenix v|tome|x m - versatile industrial CT Scanner for fully automated industrial Computed Tomography
High-end tool for 3D industrial and scientific CT analysis tasks
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特點和好處
客戶利益
與傳統的微焦點錐束CT相比,第一個工業微CT系統具有先進的分散技術,可以大幅提高CT質量水平
高通量|保持高圖像質量,掃描速度更快,或提高精度
高精度的三維測量和無損檢測任務,只需最少的操作員培訓
由於高效的高通量目標,快速檢測技術和高等級的自動化,提高了3D檢測吞吐量
動態41 | 100檢測器:相同掃描時間的CT分辨率加倍,或相比於最先進的200μm間距DXR檢測器,相同的質量水平
全自動高通量CT檢測的協同機器人的可選生產版本
該系統的所有主要硬件和CT軟件組件都是專有GE技術,彼此最佳兼容
新增功能:phoenix v | tome | xm現在也可以在特定國家/地區作為特殊計量版本,參考VDI 2630指南(測量為斷層靜態模式SD(TS)中球距的偏差,測量精度為4 + L /
),方法細節參考VDI 2630-1.3指南要求,僅適用於phoenix v | tome | xm計量版)。
主要特徵
第一台緊湊的300 kV微型CT系統,具有<1μm的細節檢測能力
高吸收樣品在300 kV下行業領先的放大倍數和功率
第一台符合GE標準的工業CT掃描儀16英寸200μm像素動態41 | 200檢測器,提高2-3倍的掃描通量,可選配GEs動態41 | 100檢測器,可在相同的掃描時間內獲得雙倍分辨率,與目前最先進的200μmDXR
探測器。
獨特的雙管配置高功率μCT以及高分辨率nanoCT®
v | tome | x m是世界上唯一一款具有突破性技術創新的microCT系統。
這種技術進步自動消除CT體積的散射偽影,與傳統的錐形束微CT相比,使用戶獲得顯著改善的CT結果。
新的GE高通量靶使得CT掃描效率更高,因為其microCT掃描速度提高了2倍,分辨率提高了一倍。
先進的phoenix datos | x CT軟件具有自動化點擊和測量| CT選項,易於使用
優化的CT採集條件和3D溫度穩定的X射線管,數字探測器陣列和機櫃以及高精度直接測量系統
主要應用
內部缺陷分析/ 3D定量孔隙度分析
裝配控制
材料結構分析
參考VDI 2630指南,3D計量精度規格為4 + L / 100μm
標稱 - 實際CAD比較
尺寸測量/壁厚分析
逆向工程/刀具補償
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