- dic@dynamite.com.tw
- 03-3715899
phoenix nanome|x NEO High-Resolution Nanofocus X-Ray Inspection System
phoenix nanome | x是一種超高分辨率納米聚焦X射線檢測系統，用於檢查半導體和SMT行業的高質量組件和互連。 該系統具有出色的性能和多功能性，可以選擇用於二維X射線檢測，也可用於全3DCT斷層掃描（micro和nanoCT以及平面CT）。 具有phoenix x | act軟件包，phoenix nanome | x是確保滿足實際和未來零缺陷要求的首選系統。
特點和優點
客戶利益:
- 結合2D / 3D CT操作
- 卓越的雙重檢測器技術（數字圖像鍊結和30 fps的主動溫度穩定數位檢測器），用于高輝度的實時圖像
- 可實現檢查步驟的自動化
- 卓越的易用性
主要特徵：
- 高倍率
- 精準操縱
- 重複性高
- 180 kV / 15 W高功率開放納米聚焦管，具有高達200納米的細節檢測能力
- 可升級到nanoCT®和/或平面CT
可選的：
- phoenix x | act軟件包，在CAD基礎下可輕鬆快速使用高分辨率自動X射線檢測（μAXI），具有高倍率和重複性，有極高的缺陷覆蓋率
- 由於具有30 fps（每秒幀數）的高動態溫度穩定型數位GE DXR檢測器和主動冷卻，因此可以進行出色的實時檢測圖像
- 10秒內進行3DCT斷層掃描
- 通過diamond|window在相同的高圖像質量水平下,2倍快速獲取數據
