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phoenix v|tome|x m - versatile industrial CT Scanner for fully automated industrial Computed Tomography
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phoenix v|tome|x m - versatile industrial CT Scanner for fully automated industrial Computed Tomography
High-end tool for 3D industrial and scientific CT analysis tasks
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特点和好处
客户利益
与传统的微焦点锥束CT相比,第一个工业微CT系统具有先进的分散技术,可以大幅提高CT质量水平
高通量|保持高图像质量,扫描速度更快,或提高精度
高精度的三维测量和无损检测任务,只需最少的操作员培训
由于高效的高通量目标,快速检测技术和高等级的自动化,提高了3D检测吞吐量
动态41 | 100检测器:相同扫描时间的CT分辨率加倍,或相比于最先进的200μm间距DXR检测器,相同的质量水平
全自动高通量CT检测的协同机器人的可选生产版本
该系统的所有主要硬件和CT软件组件都是专有GE技术,彼此最佳兼容
新增功能:phoenix v | tome | xm现在也可以在特定国家/地区作为特殊计量版本,参考VDI 2630指南(测量为断层静态模式SD(TS)中球距的偏差,测量精度为4 + L /
),方法细节参照VDI 2630-1.3指南要求,仅适用于phoenix v | tome | xm计量版)。
主要特征
第一台紧凑的300 kV微型CT系统,具有<1μm的细节检测能力
高吸收样品在300 kV下行业领先的放大倍数和功率
第一台符合GE标准的工业CT扫描仪16英寸200μm像素化动态41 | 200检测器,提高2-3倍的扫描通量,可选配GEs动态41 | 100检测器,可在相同扫描时间内获得双倍分辨率,与目前最先进的200μmDXR
探测器。
独特的双管配置高功率μCT以及高分辨率nanoCT®
v | tome | x m是世界上唯一一款具有突破性技术创新的microCT系统。
这种技术进步自动消除CT体积的散射伪影,与传统的锥形束微CT相比,使用户获得显着改善的CT结果。
新的GE高通量靶使得CT扫描效率更高,因为其microCT扫描速度提高了2倍,分辨率提高了一倍。
先进的phoenix datos | x CT软件具有自动化点击和测量| CT选项,易于使用
优化的CT采集条件和3D温度稳定的X射线管,数字探测器阵列和机柜以及高精度直接测量系统
主要应用
内部缺陷分析/ 3D定量孔隙度分析
装配控制
材料结构分析
参考VDI 2630指南,3D计量精度规格为4 + L / 100μm
标称 - 实际CAD比较
尺寸测量/壁厚分析
逆向工程/刀具补偿
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